工業鉑、銅熱電阻作為測溫儀器，近幾年的制造工藝又有了很大的提高，為了適應形勢的發展，2010年9月國家質量監督檢驗檢疫總局發布了新的工業鉑、銅熱電阻檢定規程JJG229-2010，它替代了JJG229-1998檢定規程。通過學習，將這兩版檢定規程的主要改變，歸納為以下幾點。
1、對電阻與溫度的關系的表述
JJG229-1998規程用R(t)來表述。R(t)為在溫度為t時鉑、銅熱電阻的電阻值，Ω；規程JJG229-2010用
來表述。為工業鉑、銅熱電阻在溫度為t時電阻比對溫度的變化率。可以看出規程JJG229-2010更能直觀地表述工業鉑、銅熱電阻與溫度之間的函數關系。2、允差等級的改變
JJG229-1998規程把工業鉑、銅熱電阻分為A、B兩個允差等級。規程JJG229-2010把線繞元件、膜式元件的鉑、銅熱電阻與有效溫度范圍相對應，分為AA、A、B、C四個允差等級。新規程JJG229-2010與現代制造水平相對應，對銅、鉑熱電阻允差等級進行細分，更能適應不同用戶的需求。
3、絕緣電阻
JJG229-1998規程要求：當環境溫度為15~35℃、相對濕度不大于80%時，鉑熱電阻的電阻感溫元件與保護管之間以及多支感溫元件之間的絕緣電阻應不小于100MΩ；銅熱電阻應不小于50MΩ。
新規程JJG229-2010對絕緣電阻的要求分為：常溫絕緣電阻、高溫絕緣電阻。
a)常溫絕緣電阻，熱電阻處于溫度為15~35℃、相對濕度45～80%的環境時，絕緣電阻應不小于100MΩ；
b)高溫絕緣電阻，對在不同上限溫度工作的熱電阻，規定了不同的絕緣電阻值(見新規程P4頁表2)。
可見新規程不僅增加了高溫絕緣電阻的技術要求，而且對常溫絕緣電阻的環境條件以及銅熱電阻的絕緣電阻值，都有不同于JJG229-1998規程的要求。
4、檢定條件
1)檢定設備(見表1)
2)環境條件
JJG229-1998規程要求：本身不具備恒溫條件的電測設備的工作環境溫度應為(20±2)℃。
JJG229-2010規程要求：環境溫度15～35℃，電測設備應符合相應的環境要求，相對濕度30~80%。
5、檢定方法
5.1 絕緣電阻的測量
新規程JJG229-2010與JJG229-1998不同的是：不僅要做常溫絕緣電阻的測量，在首次檢定時，如果用戶要求，還應進行高溫絕緣電阻的測量。熱電阻應在最高工作溫度保持2h進行測量。
5.2 穩定性實驗(見表2)
6、允差的檢定
JJG229-1998規程：標準和被測熱電阻插入冰點槽或恒溫槽中。30min后按標準鉑電阻溫度計→被檢→換向→被檢→標準鉑電阻溫度計完成一個讀數循環。A級鉑熱電阻每次測量不得少于三個循環，B級熱電阻每次測量不得少于兩個循環，取其平均值。
新規程JJG229-2010：采用交替測量熱電阻和標準鉑電阻的辦法，交替重復不少于四次(包括電流換向)，分別取其平均值。
可見，新規程增加了每次測量的測量次數。 減小了測量的不確定度。為達到同樣的目的，新規程還建議檢定AA級以上的熱電阻，在水三相點瓶中測量R0。關于R0、R100和Rt的檢定，R0、R100的計算(方法步驟)，新規程JJG229-2010都做了詳細的說明，相對于舊規程JJG229-1998，新規程對允差的表述既比較科學又容易理解。
7、關于檢定數據修約
◆JJG229-1998規程：B級熱電阻的電阻值取到小數點后第三位；A級鉑熱電阻的電阻值取到小數點后第四位。
◆JJG229-2010規程：AA級以上熱電阻值計算結果修約到0.1mΩ，其他等級的熱電阻值的計算結果修約到1mΩ。
新規程JJG229-2010將A、B級鉑熱電阻的計算結果都修約到1mΩ，并在規程的P9頁表5中列出了Pt100和Cu100符合允差要求的R0和R100范圍。通過查表5就可判斷電阻值是否在允差范圍內，為我們判斷被檢熱電阻是否合格提供了方便。
8、結束語
新規程JJG229-2010增加了測量不確定度的評估、出廠檢定和用戶產品驗收的合格判據等內容，使規程在執行中更趨科學合理。以上幾點是對JJG229-2010和JJG229-1998兩版檢定規程主要區別的理解，希望能對從事熱電阻檢定工作的同行有所幫助。
作者：韓晶(大連市計量檢定測試所)
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